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NOVO-CURVE小孔曲面光澤儀是一款特殊的光澤儀，是專門為測(cè)量曲面和小面積樣品而設(shè)計(jì)的，也可以檢測(cè)一般光澤儀所測(cè)量的平面。NOVO-CURVE型號(hào)已經(jīng)停產(chǎn)，Nove-Curve 4新型小孔曲面光澤儀是老款小孔曲面光澤儀的升級(jí)版，專門為測(cè)量曲面、小面積和不規(guī)則形狀工件而設(shè)計(jì)的，同時(shí)也可以檢測(cè)一般光澤儀所測(cè)量的平面。

紫外線殺菌燈管快，1-5秒內(nèi)殺菌，不產(chǎn)生有毒化學(xué)物質(zhì)；無(wú)任何殘留物質(zhì)；物理解毒。EPAC（環(huán)境保護(hù)協(xié)會(huì)）已認(rèn)證紫外線殺菌是*效的凈化方式，具有比化學(xué)消毒或過濾消毒更佳的*性。

LP-10-C橡膠多頭測(cè)厚儀主要用于測(cè)量硫化橡膠和塑料制品厚度的儀器。參照?qǐng)?zhí)行GB/T2951.1-1997《電纜絕緣和護(hù)套材料通用試驗(yàn)方法，第1部分：通用試驗(yàn)方法，第1節(jié)厚度和外形尺寸測(cè)量——機(jī)械性能試驗(yàn)》的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，還參照?qǐng)?zhí)行G2041-1991《橡膠厚度計(jì)技術(shù)條件》化工部行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，使用方便，質(zhì)量可靠，底座可拆等特點(diǎn)。

E142-1英國(guó)易高灰塵膠帶檢測(cè)（套裝）是英國(guó)ELCOMETER公司推出可用來(lái)評(píng)估待涂裝表面灰塵顆粒的數(shù)量和大小的儀器。按照 BS EN ISO 8502-3 使用,既可以即時(shí)評(píng)判合格/不合格，又可做灰塵檢測(cè)的記錄。經(jīng)噴砂處理過的表面的灰塵會(huì)降低涂層附著力,從而導(dǎo)致涂層過早脫落或涂層不合格。

GE USM88超聲波探傷儀替代老型號(hào)USM86，USM88將原來(lái)的搖桿改成按鍵了，其他功能基本不變。USM88超聲波探傷儀是GE專為中國(guó)客戶量身定制的高性價(jià)比便攜式超聲波探傷儀。

合測(cè)實(shí)業(yè)為英國(guó)易高Elcometer灰塵膠帶檢測(cè)套裝E142-1一級(jí)代理商/特約經(jīng)銷商。E142-1是英國(guó)ELCOMETER公司推出可用來(lái)評(píng)估待涂裝表面灰塵顆粒的數(shù)量和大小的儀器。此灰塵膠帶檢測(cè)套裝按照 BS EN ISO 8502-3 使用,既可以即時(shí)評(píng)判合格/不合格，又可做灰塵檢測(cè)的*記錄。經(jīng)噴砂處理過的表面的灰塵會(huì)降低涂層附著力,從而導(dǎo)致涂層過早脫落或Z終涂層不合格。

合測(cè)實(shí)業(yè)為QNix4200P德國(guó)尼克斯涂層測(cè)厚儀一級(jí)代理商/特約經(jīng)銷商。QNix4200P涂層測(cè)厚儀（分體式）更方便用戶在臺(tái)階、狹小、拐角及凹槽等復(fù)雜區(qū)域測(cè)量，零位穩(wěn)定，無(wú)需校準(zhǔn)，溫度補(bǔ)償，紅寶石探頭，*的直流采樣技術(shù)。適合測(cè)量鋼、鐵等鐵磁性（Fe）金屬基體上的非磁性涂鍍層的厚度，如油漆層、各種防腐涂層、涂料、粉末噴涂、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘等

合測(cè)實(shí)業(yè)為QNix4500P德國(guó)尼克斯涂層測(cè)厚儀一級(jí)代理商/特約經(jīng)銷商。QuaNix4500P分體式涂層測(cè)厚儀適用于在臺(tái)階、狹小及凹槽等復(fù)雜區(qū)域測(cè)量，4500P分體式涂層測(cè)厚儀有兩個(gè)量程0-3000um或0-5000um。零位穩(wěn)定，無(wú)需校準(zhǔn)，溫度補(bǔ)償，紅寶石探頭，*的直流采樣技術(shù)。

CTS-608渦流探傷儀是采用*的渦流技術(shù)、數(shù)字電子技術(shù)和微機(jī)技術(shù)設(shè)計(jì)而成的渦流檢測(cè)設(shè)備，具有實(shí)時(shí)阻抗平面和時(shí)基掃描顯示模式，檢測(cè)頻率范圍50Hz~10MHz，滿足于各種不同金屬材料的檢測(cè)要求，性能好，功耗低，電池能連續(xù)工作六個(gè)小時(shí)以上。

德國(guó)EPK涂鍍層測(cè)厚儀MINITEST 730為外置型探頭，方便用戶測(cè)量一些拐角、凹槽和讀數(shù)，它根據(jù)用戶測(cè)量要求不同可自由選擇F/N/FN探頭，Z大可測(cè)15mm,精度Z高可達(dá)±（1μm+0.75%讀值）。